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　　1、BGA返修技术资料 资料1: 深入的理解，保证过程控制、节约成本目前的国际研究加强了面阵列封装在全球的趋势。BGA、CSP以及倒装焊晶片（Flip Chip）技术不仅显著地提供了在每平方毫米PCB面积上更多的I/O（输入/输出），同时它们还具有明显的电气、机械以及单位成本优势。密度提高、特征尺寸减小以及封装都使得信号的传播距离更短，从而提高了速度和性能。参见图1。因此，在2002年期待倒焊晶片和先进封装数量的急剧增加并不神秘，在2003年达到近20亿只。参见图2。生产设备的进步已经使得生产过程中的ppm失败率可以接受。然而对许多人来说，质量修复仍是一个昂贵的恶梦。对面阵列封装和生产参数更彻底的

　　2、理解可以降低对BGA返修的惧怕、保证过程控制并大大节省返工成本。图1：密度和性能要求驱使IC封装图2：倒装焊晶片应用的趋势向裸芯片尺寸发展根据大多数操作员的历史经验，三个维修问题仍然很重要：1.从板子上移走元件，不对基底、焊盘以及邻近的元件造成损伤。2. 以过程控制的方式重新焊接元件。3. 检查工艺质量。从处理、手工焊接以及检查的观点看，驱动精细间距、外部引线器件（例如QFP、TAB、TCP元件）发展的密度和性能需求引起了大量的返修问题。面阵列封装没有出现这样的处理问题，使用典型的返修工具不能完成焊接过程，而且检查也曾经非常困难。如果对这种元件的应用的估计是正确的，那么必须采取一些措施，使面阵

　　3、列封装返修对全球无数的返修操作员来说是一个可行的、用户友好的以及有成本效益的选择。让我们研究一下在回流过程中的主要的考虑事项。参见图3。条件A条件B条件C在回流开始之前在焊料熔化点在正常的峰值温度图3：BGA回流过程在面阵列封装的整个表面上一致的热量分布和传输，在PCB上的焊盘图形是很关键的。加热过程和温度曲线必须试图使封装抵达回流并在球熔化时统一地“落回”或者降到焊盘，与焊盘形成金属间化合物。参见图4，展示了一个专业安装的PBGA的光学图片、X光图形以及一个横截面。注意元件是如何落下的、如何与PCB平行，以及所有的球如何在形状上一致、如何完全“浸润”或者与焊盘接合。图4：一个专业安装的PBG

　　4、A的图形、X光图形以及横截面另一方面，不一致的加热会引起封装不均衡地落下或者朝过早地抵达回流的一边或一角倾斜。如果在此时停止该过程，该元件将不能均匀地落下，该元件不共平面，因此焊接就不充分。另外，对非常小和轻的CSP/倒装焊晶片元件（参见图7），一个关键的考虑事项是对流回流炉中的气流速度。需要一个最小的气流速度以传递热量给元件和PCB，在回流过程中这个速度不能把这些很轻的元件吹走或者移动。当非常小的共晶锡球处于液态时，任何运动都会造成球的表面张力和“支撑”功能被破坏，从而导致在回流时CSP完全落到PCB板上。让我们关注面阵列封装的返修要求和回流目前的缺点。脱焊过程可使用大部分热空气设备进行，不

　　5、过最难控制的是重焊过程。返工与生产一样，质量是最终的目标。在回流炉的密封环境中生产可获得高质量的BGA回流。然而，返工却不能在一个完全密封的环境中进行，在此，成功取决于在封装上以及PCB焊盘上热量分布的一致性，在回流中不吹动或者移动元件。在返修情形中热量对流传递包括通过喷嘴吹出加热的空气，喷嘴与元件的形状相同。气流是动态的，包含层流效应、高低压区域以及循环速度，其本身就是一门复杂的科学。当把这些物理效应和热量吸收和分布结合起来时，很明显，用于本地区域加热的热空气喷嘴的构造，以及正确的BGA修复是一项复杂的任务。任何压力波动或者热空气系统所要求的压缩气源或者泵的问题都会从根本上降低机器的性能。

　　6、图5：热空气喷嘴某些热空气喷嘴被设计成与PCB接触以便提供更连贯的循环和热量分布，如果邻近的元件太接近（在此不允许喷嘴与板子接触），这种喷嘴就会遇到共面性问题和空间问题。这会破坏喷嘴中所希望的空气循环样式，导致BGA加热不均匀。另外，必须退出喷嘴的加热的空气常常会加热邻近的芯片、把它们吹走，或者烧伤邻近的塑料元件。半自动对流修复系统常常提供存储大量“温度曲线”的功能。清楚地理解温度曲线的作用。在生产机器中，精确的温度曲线是过程控制的关键，它可确保所有焊点统一加热并达到充分的峰值温度。设置生产参数的起始点是实际的板子温度。通过分析实际的材料温度，工艺师可以调整机器的加热区域参数，以便获得希望的板

　　7、子温度曲线。可以存储大量加热元件的温度曲线和/或气流温度的对流返修机器，只能作为板子上热量情况的近似指示。更精确的方法是在回流过程中连接一个K型热偶到PCB来检验PCB板或者元件的实际温度曲线。另外，过程控制的最终形式是在过程中对焊点进行实际检查，也就是观看回流点。参见图6。图6：返工过程中未回流和已回流BGA的光学实时捕捉图红外线回流焊炉和修复设备并不是新面孔。然而，由于以前使用的短波长IR有限的物理效应，红外线已经失去了一些市场。当热辐射均一地分布时，颜色深或者浅的物体吸收和反射热辐射并不均衡。虽然这样的热源对PCB预热是完全可接受的，但是对回流使用短波长IR常常在反射引线、度前使颜色深的元件体和FR4基底材料过热。面阵列封装返修站的购买决定必须从技术要求的可靠基础开始，过程控制非常重要。该设备必须能够让每个操作员始终确保质量，同时提高易用性。为获得高的投资回报，在灵活性方面，它应当能够完成SMD、TH、塑料连接等等。这将以最小的成本提供最大的用途。过程控制的面阵列封装返修现在是业内最热的主题之一。使用这个先进的封装技术的期望的趋势，不必再使修复操作员惧怕（从易用角度看），不必再使质量控制检验员惧怕（从过程控制角度看），不必再使采购部门惧怕（从资本投入和运作成本角度看）。通过提供更细致的对各种面阵列封装的设计、生产回流的要求以及可用的修复技术的理解，很明显，通过返

　　10、、1.5mm），可容纳的I/O数目多（如1.27mm间距的BGA在25mm边长的面积上可容纳350个I/O端子，而0.5mm间距的QFP在40mm边长的面积上只容纳304个I/O端子）。（2）封装可靠性高，焊点缺陷率低，焊点牢固。（3）QFP芯片的对中通常由操作人员用肉眼来观察，当管脚间距小于0.4mm时，对中与焊接十分困难。而BGA芯片的端子间距较大，借助对中放大系统，对中与焊接都不困难。（4）焊接共面性较QFP容易保证，因为焊料在熔化以后可以自动补偿芯片与PCB之间的平面误差。（5）较好的电特性，由于端子小，导性的自感和互感很低，频率特性好。（6）回流焊时，焊点之间的张力产生良好的自对中效

　　11、果，允许有50%的贴片精度误差。 （7）能与原有的SMT贴装工艺和设备兼容，原有的丝印机、贴装机和回流焊设备都可使用。BGA与QFP特性比较见表1。BGA的缺点主要在于焊接后需X射线 BGA器件的焊接特 性BGAQFP封 装 尺 寸 S/m25251600脚 间 距 L/mm1.270.50组装损坏率 （10-6/器件）0.60100BGA器件的焊点的成功与否与印制电路装配（PBA）有着密切的关系，所以在PCB布局方面必须考虑三个特别关键的因素。2.1 热管理当进行PCB的布局设计时，必须考虑印制电路装配的热管理问题。例如，如果在PCB的一个区域范围内，BGA器件聚集在一起则可能在回流

　　12、炉中引起PCB的热不平衡。在PCB的某个区域内集中放置许多大的BGA，可能会要求较长的加热周期，由此会造成PCB上较少元件区域内元件的烧坏。相反PCB的元件较少区域已达到焊接温度，而有BGA的区域温度还很低，助焊剂还来不及从BGA焊点中排出就完成了PCB的焊接周期，从而引起空洞或者焊球在焊盘中未能熔化。2.2 过孔组装BGA的PCB过孔位置的设计要严格按有关标准要求进行。任何与BGA元件焊盘相邻的过孔必须很好的地覆盖阻焊层，不覆盖阻焊层，会有过多的焊料从焊盘流到过孔中，从而引起焊盘与相邻过孔的短路。2.3 焊盘几何形状和直径器件封装引脚排列密度对焊盘几何形状和直径有直接的影响。同样，BGA元件

　　13、具有不同的尺寸、形状和复杂性。封装尺寸的不断减小，焊盘的几何形状和直径将要求检测技术具备更高的清晰度。3 BGA器件的验收标准对于组装在印制电路组件上的BGA器件来说，验收标准是一个比较重要的问题。BGA元件未应用于产品设计之前，多数PCB制造商在其工艺检查中并未使用X光检测系统，而使用传统的方法来测试PCB器件，如自动光学检查、人工视觉检查、制造缺陷分析的电气测试以及在线与功能测试。可是这些方法并不能准确检测到所陷藏的焊接问题，如空洞、冷焊和桥接。X射线检测技术可有效地发现这类问题，同是可以进行实时监测、提供质量保证并且可以实现过程控制的即时反馈。3.1 X射线评估在第一块组装BGA器件的P

　　14、C时，X射线可以通过焊盘边缘、开路、短路、桥接和空洞附近粗糙的未焊接区域的情况来评估再流焊的程序。开路、不接触等情况表示焊膏未能充分回流。短路桥接可能是由于太高的温度，焊料液化时间太长，使它流出焊盘并存在于相邻焊盘之间从而造成短路。需要客观地评估空洞。发现空洞不怕，关键是焊点还能够焊接在焊盘上。但是理想的情况是焊点内无空洞。空洞可能是由于污染和锡/铅或助焊剂在焊膏内不均匀分布等形成的。另外，翘曲的PCB可能造成不充分焊接。开路的焊接点也可能存在。空洞的数量与尺寸是验收合格的关键因素。通常，允许单个空洞尺寸最大为焊料球直径的50%，如果焊料是由回流的焊料所包围，焊料球将附着在焊盘上，50%的空洞

　　15、还允许BGA工作，这虽然是一个非常临界的标准，电气性能可能会满足要求，但机械强度会受到影响。含有BGA的PCB必须使用能够分辨至少小于100m直径孔的X光系统来评估。X光系统必须能够对在测单元从上往下和倾斜两个方向观察。X光检查是成功焊接BGA的可靠保证。3.2 建议的验收标准 接收标准将帮助X射线检查系统确认许多典型的焊接问题，这些问题会与BGA器件的使用有关。包括几方面的内容。（1）空洞焊接空洞是由于在BGA加热期间焊料中夹杂的化合物膨胀所导致的。有空洞的BGA焊接点可能将来会引起失效等工艺问题。验收标准为，焊接点中的空洞不应该超过焊料球直径的20%，并且没有单个空洞出现在焊接点外表。如果多个空洞可能出现在焊点中，空洞的总和不应该超过焊料球直径的20%。（2）脱焊焊点不允许脱焊焊点。（3）桥接和短路当在焊接点有过量的焊料或者焊料放置不适当时，经常会发生桥接和短路。验收标准要求焊点不能存在短路或桥接。（4）不对准X光图像将清楚地显示出BG

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